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打造完美品質全計畫

公差分析軟體 CETOL 6σ - 尺寸標註不費力

由Sigmetrix所開發的知名公差分析軟體「CETOL 6 σ」，可以在設計製程中，與電腦輔助軟體 CAD 無接縫結合，方便針對產品細部，進行修改落實品質管理。利用CETOL 6 σ可分析出的大量數據，如：最大值、最小值、平方根公差、尺寸敏感度、尺寸貢獻度、Cpk (綜合製程能力指數)…等，各項數值與設計圖型結合並且加以應用。

其中尺寸標註是公差分析當中非常重要的一環。若尺寸標註錯誤，則會大量減低公差分析的準確性；以往尺寸標註皆依賴人工的方式達成，若是設計者出現失誤，極可能忽略正確且必要的標註尺寸；如何減少尺寸標註的錯誤，一直是許多機構設計者關注的焦點。

藉由公差分析瞭解品質尺寸的公差分佈，調整公差條件和產品設計，如；超過標準規格與否，以控制產出品質。

尺寸敏感度：瞭解所有尺寸中，哪個部分微調後，對設計結果的差異性與影響程度。
尺寸貢獻度：瞭解所有尺寸中，調整哪個尺寸對整體設計的影響最大。
Cpk（綜合製成能力指數）值＆標準差：是綜合製程準確度Ca與製程精密度Cp兩值之指數計算，設計值的品質尺寸的標準差在多少的範圍。

特點

• 無接縫連結CAD系統
  與電腦輔助設計軟體CAD、Pro/ENGINEER、Solidworks與CATIA無接縫結合，迅速進行公差分析。

• 設計與製程完美結合
  藉由公差分析，了解cpk值(綜合製成能力指數)並有效利用，將設計與製造結合。

• 操作簡單
  可在模型上直接設定公差分析條件、保存分析條件。

• 以DFSS為設計基礎
  實行DFSS(Design For Six Sigma)，並連結公差分析資料庫，提昇設計效能。

• 分析結果多樣
  結果包括最大值、最小值、平方根公差、尺寸靈敏度、尺寸貢獻度、Cpk (綜合製程能力指數)…等，可快速判斷公差分析結果，並調整公差設定，達到最佳化設計。

• 用於各維度公差累積分析
  可用於1D、2D、3D公差累積分析，並選擇組件、尺寸、及幾何公差、註解來建立公差環，藉由公差條件得到分析結果。

優點

• 快速分析模型的真實統計偏差、西格瑪品質以及個體尺寸的影響和敏感度
• 輕鬆地直接在 CAD 模型中加入 GTOL 和尺寸公差
• 在元件級別的已保存公差分析中管理 1-D 公差迴圈
• 改善面向可製造性的設計
• 縮短產品上市時間
• 改善產品品質和降低成本

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